品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
---|---|---|---|
應用領域 | 化工 |
35RDC超聲複合材料探傷(shang) 儀(yi) 是一款簡單的Go/No-Go(快速確定產(chan) 品合格/不合格)的超聲測厚儀(yi) ,用於(yu) 探測飛行器複合材料結構受到撞擊而產(chan) 生的近表層缺陷。這款測厚儀(yi) 帶有一個(ge) 背光液晶顯示屏(LCD),如果沒有發現近表層損傷(shang) ,顯示屏上會(hui) 顯示GOOD(合格)字樣;如果探測到了近表層損傷(shang) ,顯示屏上會(hui) 顯示BAD(不合格)字樣。
奧林巴斯完整的粘接檢測(BT)探傷(shang) 儀(yi) 係列具有定位複合材料結構中的不連續性及其它缺陷的強大性能。這些探傷(shang) 儀(yi) 提供各種測量功能,以及專(zhuan) 用於(yu) 某些具體(ti) 應用的缺陷探測選項。一些主要應用包括對飛機結構(機翼和襟翼)、高性能跑車以及船體(ti) 中的蜂窩結構複合材料和複合層壓材料的脫粘、分層和修複(油灰填塞)區域進行定位、辨別和定量操作。
上一篇 : OmniScan MX ECA/ECT粘接檢測
下一篇 : BondMaster一發一收式探頭