渦流陣列探傷儀

渦流陣列探傷(shang) 儀(yi) 可以進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個(ge) 傳(chuan) 感器線圈（使用外置多路轉換器可支持64個(ge) 線圈），其工作模式可為(wei) 橋式或發送接收式。其工作頻率範圍為(wei) 20 Hz到6 MHz，並提供可以在同一采集操作過程中使用多個(ge) 頻率的選項。

OmniScan MX
經過現場驗證的、可靠的儀器

OmniScan MX渦流陣列探傷(shang) 儀(yi) 是一款已經現場驗證、性能可靠的儀(yi) 器，其機身結構堅固耐用，可以在嚴(yan) 酷、惡劣的檢測環境中正常工作；現在世界上正在使用的OmniScan MX儀(yi) 器有成千上萬(wan) 台。這款儀(yi) 器緊湊、輕巧，使用兩(liang) 節鋰離子電池供電，在電池滿電量時，可以進行長達6小時的手動或半自動檢測。

OmniScan MX儀(yi) 器的8.4英寸顯示屏可以實時顯示高清彩色圖像，在大多數光線條件下，操作人員都可以查看缺陷及其細微情況。用戶可使用飛梭旋鈕和功能鍵在儀(yi) 器簡潔、直觀的界麵上輕鬆瀏覽，也可以將USB鼠標連接到儀(yi) 器，方便對檢測數據進行分析。

一個平台、兩款模塊、三種技術：靈活適用性更強

為(wei) 了滿足更廣泛應用的要求，兩(liang) 款模塊都提供渦流檢測（ECT）、渦流陣列（ECA）以及粘接檢測（BT）C掃描技術。兩(liang) 款模塊都與(yu) MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C掃描）軟件兼容；要做到這點，隻需在各種技術之間進行簡單轉換，操作人員接受少許培訓即可。

ECA與ECT別無二致
覆蓋範圍廣，掃查速度快，檢出概率高

渦流陣列 (ECA) 技術融合了多種傳(chuan) 統的橋式或反射式（驅動器-拾波器）探頭線圈，以便在一次掃查檢測中覆蓋更大的範圍。此外，每款ECA探頭型號都經過精心設計，可在沿探頭長度方向上的目標缺陷範圍內(nei) 保持很高的檢出率。用戶在使用OmniScan MX ECA探傷(shang) 儀(yi) 時，可以非常快的速度手動移動ECA探頭進行檢測，並借助彩色圖像和歸檔功能，完成性能強大、效率很高的檢測。

透過薄塗層進行檢測

渦流檢測（ECT）技術基於(yu) 以下磁耦合工作原理：接近被測工件（鐵磁性或非鐵磁性的導電材料）的探頭傳(chuan) 感器（線圈）在被測工件中產(chan) 生渦流，並在儀(yi) 器的阻抗圖中顯示信號。使用渦流技術時，隻要探頭到金屬的距離保持在合理的近距離範圍內(nei) ，一般為(wei) 0.5毫米到2.0毫米，就可以透過薄塗層（如：漆層）探測到材料中的缺陷。

渦流陣列（ECA）和渦流檢測（ECT）技術基於(yu) 相同的基本原理（和物理學理論），因此也可以透過漆層進行檢測，而且ECA技術還具有以下優(you) 勢：覆蓋範圍大、掃查速度快、檢出概率高，及可進行彩色成像。

渦流檢測使用的探頭為(wei) 銅線繞製而成的線圈。線圈形狀可以變化，以更好地適用於(yu) 特定的應用。 交流電流在所選的頻率下通過線圈，在線圈周圍產(chan) 生磁場。 當線圈靠近導電材料時，材料中產(chan) 生感應渦流。 如果導電材料中的缺陷幹擾了渦流的流通，則探頭的磁耦合效果會(hui) 發生改變。通過測量線圈的阻抗變化，可以解讀缺陷信號。