Dexela 1313數字射線平板探測器

無損檢測（NDT）

Varex提供從(cong) 工業(ye) X射線管到線性加速器，從(cong) 工業(ye) 平板探測器到成像軟件的無損檢測（NDT）解決(jue) 方案。

非破壞性測試（也稱為(wei) 非破壞性成像（NDI））是一種成像分析，涵蓋了廣泛的應用程序，可在不破壞材料本身的情況下評估材料的性能。 要求無損檢測的一些應用包括：

• 鑄造檢查
• 焊接和管道成像
• 電子檢查

我們(men) 種類繁多的玻璃和陶瓷X射線管為(wei) 無損檢測應用提供了廣泛的目標角度，焦點和功率功能。 對於(yu) 需要不同參數和高分辨率成像的檢查操作，Varex提供了具有小焦點的雙聚焦管和單聚焦管以及帶有鈹（Be）的X射線管，用於(yu) 低固有過濾。 這項技術可幫助專(zhuan) 業(ye) 人士分析管道和其他工業(ye) 結構的完整性，而不會(hui) 損壞所討論的材料或係統。

Varex工業(ye) 平板探測器還設計用於(yu) 滿足廣泛的非破壞性測試應用。 通過提供各種尺寸的產(chan) 品，我們(men) 的檢測器有助於(yu) 防止幾何變形並*地減小磁場和輻射的影響。 我們(men) 的探測器技術使我們(men) 的客戶能夠利用的數字圖像質量，高通量和CT功能。 這些檢測器可在整個(ge) 視場中呈現均勻，不失真的高分辨率圖像，使技術人員可以拍攝更高質量的圖像。 由於(yu) 我們(men) 的平板檢測器可以捕獲數字圖像並消除膠片需求，因此可以在更短的時間內(nei) 捕獲更多圖像。

如果您的非破壞性測試需求要求您對需要更高能量的大型結構進行成像，那麽(me) 我們(men) 的線性加速器是一種出色的解決(jue) 方案，可幫助您對像火箭和其他航空航天產(chan) 品一樣大的物體(ti) 成像。

滿足您的無損檢測需求的成像解決方案

工業(ye) X射線管

工業(ye) 平板探測器

直線加速器

計量與材料科學

材料科學和計量X射線係統提供了用於(yu) 製造各種組件的測量解決(jue) 方案，從(cong) 微型和宏觀零件到大型發動機和風力渦輪機，都變得更加堅固，安全和節能。

什麽(me) 是材料科學？ 從(cong) 原子尺度看材料的結構並進行直接的結構測量。 有多種測量材料的X射線方法-包括計量，熒光，衍射和晶體(ti) 學。 計量是指獲取一組組件的CT圖像以對其進行測量，對組件進行大量測試（例如應力，熱循環和濕度），然後獲取另一組CT圖像並分析變化的過程。 X射線衍射和晶體(ti) 學用於(yu) 鑒定材料的原子特性。 X射線被晶體(ti) 中原子的規則三維排列衍射，然後通過成像板或檢測器記錄所得的衍射圖樣。 從(cong) 衍射圖樣可以診斷出它是一種特殊的材料。 將衍射圖與(yu) 計算機數據庫中的衍射圖進行比較，以找到匹配結果。 XRF（X射線熒光）是一種無損分析技術，用於(yu) 確定材料的元素組成。 XRF分析儀(yi) 通過測量樣品在一次X射線源激發下發出的熒光（或二次）X射線來確定樣品的化學性質。 它用於(yu) 測試金屬和塗層的厚度。

從(cong) 科學研究到工業(ye) 質量控製（例如：航空航天業(ye) 的渦輪機鑄件質量檢查），我們(men) 的X射線組件都增強了測量技術，可確保在需要高精度的任何地方達到高質量標準。 和他們(men) 的：

• 高動態範圍和對比度
• 高飽和劑量
• 低劑量時具有高靈敏度和對比度
• CMOS檢測器的高速和低延遲
• 低噪聲
• 能量範圍廣，目標材料不同
• Varex Imaging X射線平板探測器和顯像管為許多科學X射線應用提供了明顯的優勢。

滿足您的材料科學需求的成像解決方案

工業(ye) 平板探測器

工業(ye) X射線管

Dexela 1313數字射線平板探測器