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為(wei) 了獲得用於(yu) 非破壞性測試成像的高分辨率的圖像質量,請升級到1207N Varex Imaging CMOS(互補金屬氧化物半導體(ti) )X射線平板探測器。
1207N CMOS平板探測器是具有出色靈敏度的高速,低噪聲X射線探測器。 該探測器采用的大麵積CMOS圖像傳(chuan) 感器技術,並提供了一係列閃爍器和接口選項。
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實時和計算機斷層掃描(CT)成像以及具有高動態範圍的靜態成像。
1207N平板探測器的功能和優(you) 點包括:
為(wei) 了獲得用於(yu) 非破壞性測試成像的高分辨率的圖像質量,請升級到1512N Varex Imaging CMOS(互補金屬氧化物半導體(ti) )平板探測器。
1512N CMOS平板探測器是具有出色靈敏度的高速,低噪聲X射線探測器。 該探測器采用的大麵積CMOS圖像傳(chuan) 感器技術,並提供了一係列閃爍器和接口選項。
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實時和計算機斷層掃描(CT)成像以及具有高動態範圍的靜態成像。
1512N平板探測器的功能和優(you) 點包括:
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益,這使其非常適合實時和計算機斷層掃描(CT)成像以及具有高動態範圍的靜態成像。
2315N平板探測器的功能和優(you) 點包括:
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